Rapporto 3F-RT05022 Misure di riflessione speculare e diffusa su superfici lucide

Year: 2005

Authors: Fontani D., Francini F., Jafrancesco D., Mercatelli L., Sansoni P.

Autors Affiliation: INOA

Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS

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KeyWords: fotometria; illuminotecnica; metrologia