Rapporto 3F-RT05022 Misure di riflessione speculare e diffusa su superfici lucide
Year: 2005
Authors: Fontani D., Francini F., Jafrancesco D., Mercatelli L., Sansoni P.
Autors Affiliation: INOA
Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
More Information: RiservatoKeyWords: fotometria; illuminotecnica; metrologia