Tecnologie diagnostiche per i Beni Culturali all’Istituto Nazionale di Ottica Applicata

Year: 2002

Authors: Fontana R., Greco M., Materazzi M., Pampaloni E., Pezzati L.

Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;

Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS

KeyWords: diagnostica ottica; beni culturali;