Tecnologie diagnostiche per i Beni Culturali all’Istituto Nazionale di Ottica Applicata
Year: 2002
Authors: Fontana R., Greco M., Materazzi M., Pampaloni E., Pezzati L.
Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
KeyWords: diagnostica ottica; beni culturali;