Sistema interferometrico per la misura simultanea dell’indice di rifrazione e dello spessore di materiali trasparenti e relativo procedimento
Year: 2002
Authors: Ferraro P., Coppola G., Iodice M., De Nicola S.
Autors Affiliation: Consiglio Nazionale delle Ricerche
Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
KeyWords: interferometria
