Stazione di lavoro per lo studio del microrilievo delle superfici

Year: 1991

Authors: Quercioli F., Molesini G.

Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Abstract: N.A.

Journal/Review: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS

Volume: 19(4)      Pages from: 22  to: 24

KeyWords: Profilometria